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  • 鍍層無損分析儀 EDX600PLUS 可靠性高 使用方便
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產(chǎn)品描述

檢測對象固體,液體,粉末狀 發(fā)貨期新機兩周,舊機3天 外觀灰白色 檢出限1ppm 光源X光

鍍層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。

X射線和β射線法是無接觸無損測量,測量范圍較小,X射線法可測薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。


鍍層測厚儀采用了電渦流原理以及霍爾效應測量的原理。主要用于測量金屬以及非金屬等基體上的油漆層、電鍍層等非磁性材料的厚度。可以無損的測量出涂鍍層的厚度。

廣泛應用在電鍍、噴涂、管道防腐、鋁型材、鋼結構、印刷線路版、及絲網(wǎng)印刷等行業(yè)中。特別適合用于生產(chǎn)現(xiàn)場的質量管控。


鍍層無損分析儀

鍍層測厚儀因為采用的是主機與探頭分離式的設計,所以在購買時有兩個不同量程的探頭可以選擇。F5N3的探頭,大量程厚可以測到5mm,F(xiàn)3N3的探頭,厚可以測到3mm。

在測量以mm為單位的鍍層厚度時,大量程的鍍層測厚儀LS223就可以滿足您的測量需求。客戶在選購時可以根據(jù)測量材料的厚度來選擇相應的探頭。鍍層測厚儀90天無理由退換貨,不滿意都可以退。


鍍層無損分析儀

鍍層測厚儀在使用前為減少測量的誤差,可以進行簡單的調零。用附送的鋁或者鐵調零板調零即可。調零方法:

1、將探頭垂直按壓在調零板中間的位置,保持探頭的穩(wěn)定。

2、按下按鍵,屏幕會提示壓緊探頭,再根據(jù)提示把探頭提起15cm以上。

3、屏幕顯示0.0則調零完畢。

4、完成后,可以把有標準值的測試片放在調零板上測量。測量的數(shù)值與標準測試片的誤差范圍之內,則說明儀器可以正常使用了。


鍍層無損分析儀

我們全體員工以飽滿的熱情,期待與五湖四海的新老朋友合作。一直秉承滿足用戶需求,至真至誠,著眼現(xiàn)在,放眼未來的經(jīng)營理念。


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Development, design, production and sales in one of the manufacturing enterprises

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