手持光譜儀是一種基于XRF(X Ray Fluorescence,X射線熒光)光譜分析技術的光譜分析儀器，主要由X光管、探測器、CPU以及存儲器組成，由于其便攜具有便攜、準確等特點，使其在合金、礦石、環境、消費品等領域有著重要的應用。尤其適合于不銹鋼材料的牌號確認以及定量測量元素。
手持式分析儀 探測器：13mm2 電致冷Si-PIN探測器 激發源：40KV/50uA-銀端窗一體化微型X光管 檢測時間：10-200秒（可手持式或座立式測試） 檢測對象：固體、液體、粉末 檢測范圍：硫(S)到鈾(U)之間所有元素 可同時分析元素：多至26個元素 元素檢出限：0.001%～0.01% 校正方式： 銀(Ag) 性：自帶模式，非授權人員無法使用 Data使用性：可在PDA內進行編輯，可導入PC機進行 保存打印，配備海量存儲卡 電 源： 兩塊鋰電池滿電可連續工作8小時

技術參數： 重量： 1.6kg 尺寸： 30cm（L） x 10cm（W） x 28cm（H） 激發源： X射線管，Ag靶，40kV 檢測器： SI-PIN檢測器 操作系統：HP掌上電腦：Windows 5.0 Bruker 軟件 冷卻系統：Peltier 半導體冷卻系統 電源： 交、直流供電;充電鋰電池 工作條件：溫度：-20 ℃ ～ 55 ℃ 　濕度：0～95%

手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術的光譜分析儀器，當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時,驅逐一個內層電子從而出現一個空穴,使整個原子體系處于不穩定的狀態,當較外層的電子躍遷到空穴時,產生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，發生俄歇效應,亦稱次級光電效應或無效應。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不被原子內吸收,而是以光子形式放出,便產生X 射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應的關系。由Moseley定律可知，只要測出熒光X射線的波長,可以知道元素的種類,這是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系,據此,可以進行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易于測量的電信號來得到待測元素的特息。

合金材料分析 目前在合金材料檢測領域，它主要用于、航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領域金屬材料中元素成份的現場測定，是伴隨世界經濟崛起的工業和制造領域必不可少的成份鑒定工具。 重金屬檢測 除了傳統的合金材料檢測，貴金屬，RoHs合規篩查，礦石分析，手持式XRF儀器同樣在地質勘探和環境評估中發揮著重要的作用，通過分析土壤中的重金屬元素，可以知道整個區域的礦產分布和污染分布。 其他領域 XRF技術還可以用于一些新的領域，比如風電和汽車領域，通過對油品中金屬元素含量進行檢測，可以間接反映軸承的磨損情況。還有許多新的XRF應用領域正在被開發出來，使得XRF技術在各個行業領域得到了廣泛的應用。比如工廠的生產制造環節的焊接質量控制，也會用到XRF合金分析儀。
手持式光譜儀使用注意事項 　　
1.使用手持式光譜儀應注意防護，手持測試時，測試窗口切勿對人，勿空打。 　　
2.分析儀應拿妥，帶好腕帶，切勿摔落及撞擊。 　　
3.不能用指甲掐電源鍵等塑料按鍵，要用指腹操作，以免損壞塑膠鍵。 　　
4.手持式光譜儀操作環境溫度為-5℃~25℃，端使用溫度為-10℃~49℃，不能將手持式光譜儀放在汽車后備箱等高溫地方，若手持式光譜儀過熱，應停止工作、關機使其冷卻10分鐘左右，再重新開機、校正使用。 　　5.不能檢測磁性材料，否則造成手持式光譜儀損壞，不使用時應確實關機并放入手持式光譜儀箱中存放。
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